【半導体後工程技術の深化と進化】最先端3D集積とチップレットにおける課題および配線・接合技術の最新動向とプロセス技術・材料への要求

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開催日 13:00 ~ 16:30 
締めきりました
主催者 サイエンス&テクノロジー株式会社
キーワード 半導体技術   電子デバイス・部品   計測工学
開催エリア 全国
開催場所 オンライン配信セミナー

AI時代に重要度が増すロジック半導体への適用に期待の先端3D集積配線技術「BSPDN」と、近年関心が高まるチップレット集積への適用に期待のハイブリッド接合…これらに用いられる要素技術を中心に最新動向を解説!

■Wafer-to-Wafer ハイブリッド接合に必要なめっき技術・CMP技術・洗浄技術とは? ■Die-to-Wafer ハイブリッド接合、ダイレベルハイブリッドの最新動向は? 昨年のECTC2023で、ハイブリッド接合を用いた新たなチップ集積技術の発表もしている横浜国立大学の井上史大氏が解説します!

 

日時

Live配信】2024年7月4日(木)  13:00~16:30【アーカイブ(見逃し)配信】視聴期間:7/5~7/11の7日間  受講可能な形式:【Live配信(アーカイブ配信付)】のみ>

セミナー講師

横浜国立大学 理工学部 機械・材料・海洋系学科 准教授 工学(博士) 井上 史大 氏

略歴2011年03月 - 2014年10月 imec 滞在研究員2013年04月 - 2014年10月  東北大学 日本学術振興会特別研究員2014年10月 - 2021年03月  imec 研究員2021年04月 - 現在 専任  横浜国立大学 大学院工学研究院 システムの創生部門 准教授 2022年10月 - 現在 併任  横浜国立大学 先端科学高等研究院 准教授専門半導体プロセス

セミナー受講料

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1名申込みの場合:受講料37,400円( E-Mail案内登録価格 35,640円) ※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。※他の割引は併用できません。

受講、配布資料などについて

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配布資料

  • PDFテキスト(印刷可・編集不可)

セミナー趣旨

半導体の前工程と後工程の境目がなくなってきており、さまざまな3D集積技術がトレンドに挙がってきている。本講演でそれら技術の詳細と必要となるプロセス技術、材料を紹介する。

セミナープログラム

1.3Dロジックデバイス 1.1 BSPDNとは? 1.2 開発動向 1.3 必要となる要素技術2.Wafer-to-Wafer ハイブリッド接合 2.1 ハイブリッド接合とは? 2.2 開発動向 2.3 Cuパッドデザイン 2.4 アライメント精度 2.5 接合絶縁膜 2.6 めっき技術 2.7 CMP技術 2.8 洗浄技術 2.9 プラズマ活性化技術 2.10 接合強度測定3.Die-to-Wafer ハイブリッド接合 3.1 チップレット  3.2 ダイレベルハイブリッド 3.3 ダイボンダ― 3.4 コレクティブボンディング 3.5 リコンストラクティッドボンディング 3.6 接合強度測定手法  □質疑応答□