異物の分析および問題解決の方法 ～主にFT-IRを使用して分析していきます～

・異物分析、何が重要か？どのような方針・手順でやればいいのか？ ・FT-IR分析に焦点。質問も大歓迎です！

セミナー講師

 あなりす 代表 工学博士    岡田 きよみ 氏

■ご略歴1984-2005  王子ホールディングス株式会社                  ＜神埼製紙合併→新王子製紙合併→王子ホールディング、上級研究員＞　                 （主に、画像用感熱フィルムの開発および分析業務担当）2006-2016  株式会社パーキンエルマージャパン（分子分光シニアスペシャリスト）2016-2019  京都大学 工学研究科(セルロースナノファイバー関係 特定研究員)2018-　　    あなりす（分析コンサルタント、受託分析会社）

セミナー受講料

【オンラインセミナー（見逃し視聴なし）】：1名41,800円(税込（消費税10％）、資料付)＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき30,800円

【オンラインセミナー（見逃し視聴あり）】：1名47,300円(税込（消費税10％）、資料付)＊1社2名以上同時申込の場合、1名につき36,300円＊学校法人割引；学生、教員のご参加は受講料50％割引。

受講について

• 配布資料はPDF等のデータで送付予定です。受取方法はメールでご案内致します。（開催1週前～前日までには送付致します）※準備の都合上、開催1営業日前の12:00までにお申し込みをお願い致します。（土、日、祝日は営業日としてカウント致しません。）
• 受講申込者のメールアドレスは講師へ通知させて頂きます。※講師からのフォロー・情報提供が理由です。（支障のある方はお申し込み時の備考欄にその旨を記載願います）
• 受講にあたってこちらをご確認の上、お申し込みください。
• Zoomを使用したオンラインセミナーです→環境の確認についてこちらからご確認ください
• 申込み時に（見逃し視聴有り）を選択された方は、見逃し視聴が可能です→こちらをご確認ください

セミナー趣旨

  異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへの対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。本講演では、数μm～の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認できる情報、測定方法、解析方法、問題解決にむけてのアプローチなど、事例を交えながら解説します。中でも、異物分析で最も使用頻度の高いFT-IR分析に焦点を当て、より効果的な分析ができるように、測定方法の違いとそれぞれの方法における異物の分析範囲の違いを確認します。さらに、皆様が悩まれることの多いFT-IRのスペクトル取得後のスペクトル解析に関しての解説も加えて、実際にFT-IRを使用して異物分析ができるようにわかりやすく説明します。  また、異物分析の問題解決に向けては、コミュニケーションが非常に重要となりますが、それはどうしてか、どのような情報が必要なのかについても解説を行います。  分析技術者の方はもちろんのこと、分析にかかわる方にもコミュニケーションの大切さを実感していただき、チームでの異物対応力の向上に役立てていただきたいと思います。  尚、オンラインセミナーではありますが、出来るだけ皆様のご要望に沿った講演を目指しております。また、本講演は、座学にとどまらず、実際に使っていただく/役立てていただくことを目的としております。どうぞ遠慮なく、「Q＆A」や「チャット」にて質問やコメントをお寄せくださいませ。お話しできる環境にある方は、マイクでのご発言・ご質問も歓迎します。どんな内容であっても一人一人の声が、参加者の方々の理解につながります。皆さんで「使えるセミナー」を創っていきましょう。

受講対象・レベル

・分析業務に従事している方・異物分析や異物トラブル対応をしている方・異物混入などのクレーム対応を行う部門の方・異物を分析担当者に持ち込むことのある方※対象業界は不問です。食品業界の方も工業品業界の方も受講可能です。

セミナープログラム

1. はじめに ※講師自己紹介 ※また受講者の皆様の参加経緯・参加目的等も、支障のない範囲で「Q＆A」等に投稿頂ければ幸いです。   皆様の要望に適うセミナーにできればと考えております。　1.1 異物分析の目的　1.2 コミュニケーション2. 異物の概要　2.1 異物とは何か　2.2 異物の種類3. 異物の分析方法　3.1 異物分析で大切な事　3.2 異物対応および分析の手順　3.3 確認すべき情報　3.4 観察でわかること　3.5 異物のサンプリング方法　3.6 現場でのサンプリング失敗例　3.7 チームの力が活かせなかった例　3.8 問題解決に向けてのアプローチ4. FT-IRを使用した異物分析　4.1 異物分析の中のFT-IR　4.2 FT-IRの概要　　　a. FT-IRでどんな情報が得られるのか　　　b. FT-IR測定での約束事　4.3 異物でよく使用されるFT-IRの測定方法　4.4 微小異物の測定に使用される顕微IR　4.5 測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ　4.6 FT-IR測定のためのサンプリングと前処理　4.7 スペクトルの解析　　　a. よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析　　　b. データベースをうまく使う　　　c. 問題解決のための解析　　　d. 異物としてよくみかけるスペクトル例5. FT-IRを補完する分析装置　5.1 SEM-EDS　5.2 蛍光X線　5.3 GC、GC-MSおよびLC6. 異物分析の例　6.1 分散不良による異物　6.2 食品中の異物（3例）　6.3 カビによる異物　6.4 熱蓄積性物質による異物　6.5 歩留まり向上のための分析　6.6 プラスチック製品の劣化起因異物　6.7 異臭の分析（FT-IRではできない例）7. よくある質問　7.1 サンプリングに関すること　7.2 スペクトルに関すること　7.3 その他8. まとめ＜質疑応答＞