【中止】基礎からよくわかる、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）、その測定とデータ解析

セミナー趣旨

習得できる知識

セミナープログラム

１．AFMの基礎
　1.1 走査型プローブ顕微鏡とAFM
　1.2 AFMの動作原理と要素技術
　　1.2.1 カンチレバー
　　1.2.2 探針
　　1.2.3 変位検出法
　　1.2.4 PID制御
　　1.2.5 スキャナー
　　1.2.6 除振動技術
　1.3 フォースカーブ

２．イメージングモードの原理と応用
　2.1 コンタクトモード
　2.2 タッピングモード
　2.3 ノンコンタクトモード
　2.4 最近の新しいイメージングモード

３．AFMデータの実際と解析技術
　3.1 アーティファクトと対策
　3.2 よく使うデータ解析方法
　3.3 画像解析技術

４．AFMによる物性計測の基礎と応用
　4.1 機械特性
　　4.1.1 位相イメージング
　　4.1.2 弾性率計測と解析方法
　4.2 電気力計測
　　4.2.1 電流(抵抗)分布
　　4.2.2 電荷/電位分布
　4.3 磁気計測
　4.4 摩擦力計測
　4.5 その他の物性計測法

５．AFMの高速化と応用
　5.1 高速化の要素技術
　5.2 一分子動態計測への応用
　5.3 高速AFMデータの解析手法
　5.4 高速AFMの機能拡張

　　□質疑応答□

セミナー講師

名古屋大学大学院 理学研究科 教授　内橋 貴之　氏

【経歴】
1998年大阪大学大学院工学研究科修了. JRCAT研究員, 姫路工業大学助手, Trinity College, Dublin,研究員, 金沢大学にて助手, 准教授, 教授を経て2017年より現職.

【専門】
走査型プローブ顕微鏡、生物物理学

【受賞】
平成２５年度 科学技術分野の文部科学大臣表彰　科学技術賞（開発部門）

【WebSite】
https://www.nagoya-d-lab.com/

セミナー受講料

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