～車載電子機器における～トラブル未然防止のための寿命予測

【講師】

本山　晃（もとやまあきら）氏：M.A信頼性技術オフィス　代表

＜略歴＞
　1977年4月　松下電工株式会社入社　綜合技術研究所配属
　2003年～2012年　Panasonic株式会社　解析センター　主幹技師
　2013年4月～2016年3月　大阪大学大学院　工学研究科　非常勤講師
　2014年11月　Panasonic株式会社　退職
　2015年 6月　M.A信頼性技術オフィス　設立

【プログラム】

　1　電子機器の市場トラブルの現状と課題

　2　電子機器を評価する際に用いる信頼性の基礎と信頼性用語
　　2-1　信頼性用語の意味・定義
　　2-2　故障率・故障数と時間の関係

　3　電子機器の信頼性を見極めるための試験法
　　3-1　初期故障を低減するための基本的な考え方
　　3-2　信頼水準を適用した偶発故障を見極める試験の考え方
　　3-3　使用環境に対応した耐用寿命を見極める試験の考え方

　4　初期故障率を低減するためのスクリーニングの実際
　　4-1　信頼性目標（初期故障期間での累積故障確率と使用時間）の設定
　　4-2　AEC-Q100の規格を利用したスクリーニング時間の設定事例

　5　加速試験による市場での寿命予測の実際
　　5-1　加速試験の種類と考え方
　　5-2　寿命予測のプロセス
　　5-3　加速試験による市場での寿命予測事例

【受講料】

・お1人受講の場合　47,000円[税別]／1名
・1口でお申込の場合　57,000円[税別]／1口（3名まで受講可能）

　受講申込ページで2～3名を同時に申し込んだ場合、自動的に1口申し込みと致します。