➀対象となる検査工程は破壊検査の為、各サンプルに対してN1でしか検査できません。GRRは繰り返し性(装置変動EV)の2乗と再現性(測定者変動AV)の2乗を足してルートしたものだと思いますが、N1の為、EV=0となり、GRR=AV測定者変動となります。GRRが仮に高い(悪い)値を示すとき、測定者変動に装置変動が混じっていることも考えられる為、装置変動が予め少ないことを保証しておく必要があるのでしょうか。ある場合は(破壊試験で)どのような方法が考えられるでしょうか
➁GRRでサンプルM個に対して、測定回数N回(非破壊試験で)としたとき、N回は連続して行うものなのでしょうか。それともMN回をランダム化して行うのでしょうか。連続で測定する場合、例えば重量測定であれば同じ結果しか得られないような気はするのですが、それはそれで装置変動が少ないので良いという解釈になるのでしょうか。
日本語がおかしい点はご容赦頂けますと幸いです。以上
専門家B 森本と申します
①についての回答ですが、「もみじさん」が書かれておられるようにGRRを計算するということは、「測定システムが製品やプロセスの特性に適合しているか判定する」ことが目的と理解しております。従って、使用する測定システムが許容できる%GRRの基準を定める必要性があります。
(例えば%GRRは10%以下)
②測定システムを評価するには知覚区分数ndcが5以上であることが十分条件になります。すなわち、GRRに対して製品変動(PV)を大きくする必要性があると存じます。
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