FT-IRの基礎と分析事例・スペクトル解析のテクニック

セミナー趣旨

　FT-IRは赤外分光法という原理を用いた分析装置であり、FT-IRを用いた分析は、化合物の定性・定量ができるという特性から異物分析・品質管理・開発評価などに広く用いられている。また、金属以外の試料であれば、無機物・有機物問わず何らかの特徴的な情報が得られるため、FT-IRが有効な試料は数多くある。しかし、FT-IRの測定法は試料に応じて選択する必要があり、得られるスペクトルも測定法により異なる特徴がある。
　本講座では、FT-IRを正しく使用し、得られたスペクトルを正しく解析するために必要な基礎知識の習得を目的とする。
　赤外分光法の基礎、スペクトルの解析とデータ処理方法、顕微測定を含むFT-IRの測定方法と適用可能な試料形態、サンプリング時のコツと失敗例、実際のアプリケーション事例などの紹介を通じて、試料に応じた測定装置・測定法の選択からスペクトルの正しい理解・評価までを行うことができる知識を習得する。

受講対象・レベル

・FT-IRを今後使用するもしくは検討する方
・FT-IRを使用するオペレーターおよび分析技術者

必要な予備知識

特に予備知識は必要ありません。基礎から解説いたします。

習得できる知識

・FT-IRの基礎原理と測定方法
・顕微FT-IRの基礎原理と測定方法
・スペクトルの正しい解析方法

上記をベースにアプリケーション事例を解説することで、FT-IRの適切な測定方法と解析方法が習得できる。

セミナープログラム

１． 赤外分光法の基礎
　　　1-1. 赤外分光法とは
　　　1-2. スペクトル解析の基礎
　　　1-3. FT-IRの装置原理
　　　1-4. 顕微FT-IRの装置原理

２． スペクトル解析
　　　2-1. スペクトルの帰属
　　　2-2. データ処理のコツ
　　　2-3. データベースを用いた解析

３． FT-IRの測定方法とアプリケーション紹介
　　　3-1. 透過法
　　　　　　（1）KBr錠剤法
　　　　　　（2）薄膜法
　　　　　　（3）溶液法
　　　　　　（4）ガス測定
　　　3-2. 反射法
　　　　　　（1）ATR法
　　　　　　（2）拡散反射法
　　　　　　（3）正反射法
　　　　　　（4）RAS法
　　　3-3. パラメータ設定のコツ

４． 顕微FT-IRの測定方法とアプリケーション紹介
　　　4-1. 測定方法
　　　4-2. 前処理テクニック
　　　4-3. イメージング分析

【質疑応答】

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セミナー講師

日本分光株式会社 光分析ソリューション部 ソリューション技術課　乗本 真吾 氏

セミナー受講料

49,500円（税込、資料付）
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　 2名同時申込の場合計49,500円（2人目無料：1名あたり24,750円）で受講できます。
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　  今回の受講料から会員価格を適用いたします。）
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