製造業におけるやさしく、役に立つ数理的問題解決法10選【第２回 / 全３回】

セミナー趣旨

　製造業においては、日常さまざまな問題（品質問題や生産阻害問題、安全問題）が発生します。源流段階にて未然防止しておくべきことが理想で、本質ですが、かといって、発生している問題を短期間に効率よく解決できないと企業活動が立ちいかなくなるといっても過言ではありません。現実論だともいえます。

　Fact control、データベースによる企業活動が謳われて久しいですが、未だに現場データが十分生かされているとは言えない状況を経験されて、歯がゆい思いをされている方が多いのが実情ではないでしょうか。又、効率的な実験やその解析方法が今一つ分からないという声もあります。

　ここでは、これらの疑問、要望にこたえるため、主に、エクセル主体で簡単に解析できるツールを実用例によって平易に解説いたします。品質問題解決だけでなく、生産性向上や安全、環境問題の解決にまで幅広く、かつ、分かり易い解説を行います。

受講対象・レベル

大小問わず、製造業に従事している人。

設計開発、生産技術、製造工程改善、品質管理全般を自社内で実施している企業の経営者もしくは技術/品質担当役員、部門長、技術・品質管理担当者、改善活動指導者。

セミナープログラム

４．多要因の解決法は多変量解析で！
　4.1　AIと多要因と多変量解析
　4.2　製造品質や生産性問題解決のための数理的手法として
　　　　⑥重回帰分析　⑦T法（品質工学）　⑧判別分析
　4.3　多くの原因系と結果系（特性）の関連性によって不具合解決へ
　　　　重回帰分析の簡単な実行と、重要な注意点（落とし穴）
　4.4  非常に少ないデータで予測したい。それによって歩留まりを上げたい。
　　　　T法は、少数データでも再現性も含めて予測にぴったり
　4.5  不良と良品の判別はどの要因が効いているのか知りたい。
　　　　判別分析の簡単なやりかたと使い方
　4.6  演習：判別分析　「良品、不良品を決める原因の発見」

セミナー講師

村島 繁延　氏

資格・著書等
　技術士（経営工学部門：数理・情報、総合技術監理部門：経営工学）
　QC検定1級
　半導体製造の技術開発（日本規格協会）　第10章、
　ISSM（半導体生産技術国際シンポジューム）にて2006～2010年に4件

専門分野
　経営工学、品質工学、信頼性工学、品質管理、統計的手法によるデータ解析

略歴
１９７７年　名古屋大学工学部卒業後半導体製造会社に入社。パワートランジスタ、化合物半導体の開発、設計、生産技術などに従事。この間並行して、品質工学、多変量解析、統計的手法による品質改善を社内外にて多数指導。
2011年退社し、村島技術士事務所を設立、データ解析による品質向上やコスト低減、生産性向上に関する企業コンサルティング開始、現在に至る。

セミナー受講料

1名様 16,500円（税込）

 備考欄にご希望の支払い方法【銀行振込またはクレジットカード】を記入ください。

※ものづくりイノベーター認定者は、当社主催セミナー受講料が割引となります。
　お申込時、備考欄にご自身のイノベーターランクを申告してください。

受講について

【このセミナーはWEBセミナーです】

ネット環境さえあればお好きな場所から参加して頂くことが可能です！

・本セミナーはWebセミナーツール「Zoomウェビナー」を使ったライブ配信となります。
・事前にご利用予定の通信回線にて、テストミーティング（http://zoom.us/test）に
　アクセス出来ることをご確認ください。
・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。
・双方向のやりとりも可能です。